特高压电力专业生产局部放电测试仪可以帮助众多电力工作者更加方便的进行各类电力测试。
不建议将热像仪用于局部放电检查
热像仪观察目标物体发出的红外能量。这对电气检查意味着我们正在寻找过热的电气资产。例如，松动和腐蚀的连接会产生更高的电阻，从而导致更高的温度，或者由于相间温差导致的不平衡负载，或者由于变压器油泄漏导致的液位降低，在正确使用热成像仪时会很明显。
然而，局部放电是热像仪的一个问题。热成像取决于电流，其功率与电流乘以电阻的平方成正比（更高的电流会导致更高的温度，更高的电阻也会导致更高的温度）。局部放电会导致绝缘过热，反复发生会产生累积效应，从而导致损坏和最终故障。然而，它的距离很短而且速度很快（每隔几毫秒间隔几微秒的持续时间），所以只有在严重的极端高级情况下，例如在电晕的高级电弧阶段，才有机会吸收热量通过热像仪，甚至是高质量的模型。内部局部放电（即绝缘体内部）极不可能被拾取。
绝缘随着年龄的增长而退化。其他因素可能导致过早失效，例如潮湿、污垢/污染、工艺不良和/或有缺陷的材料。在劣化点，当它无法承受施加在其上的电场并发生故障时，就会发生绝缘故障。这是一个电压事件。举一个极端的例子，考虑一条带有表面局部放电的备用中压电缆，该电缆已通电，但实际上没有负载，仍会发射超声波和 UHF 副产品。
简而言之，IR 测试和 PD 测试方法是检测不同类型电气故障的互补技术。
