特高压电力旗下的绝缘电阻测试仪可以帮助众多电力工作者更加方便的进行各类电力测试。
了解 IR 测试结果：
获得的 IR 测试测量值旨在表明电气绝缘的完整性，而 IR 水平越高，绝缘状况越好。理想情况下，IR 测试读数应处于无限水平。然而，由于没有完美的绝缘体，并且漏电流会流过介电材料，在导电部件之间，它确保可以测量有限的电阻值。在执行 IR 测试时，通常检测到三种类型的电流。了解所有三种类型的电流以及它们如何影响 IR 读数非常重要：
1.电容充电电流是在施加直流电压时流过的电流，用于对被测绝缘系统和大地之间的电容充电。当电容器充电时（即在 1 秒内），该电流水平在第一个实例中会很高，然后迅速下降到零。
2.介电吸收电流是由绝缘系统吸收的极化电流，以使介电材料内的偶极子与施加的电场对齐。这个电流水平最初很高，但随着绝缘中的偶极子变得越来越极化（即大约 10 分钟到几小时），它会逐渐下降。
3.泄漏电流是通过绝缘材料中可能存在的任何泄漏路径连续流到地的电阻电流。显然，低泄漏电流水平意味着绝缘系统处于良好状态。在良好的绝缘材料中，漏电流水平也应随时间或多或少地保持恒定。
虽然在 IR 测试期间监控所有三种类型的电流很有用，但泄漏电流和介电吸收电流都是评估绝缘整体完整性最常用的两种测量方法。然而，电容充电电流测量也是绝缘介电材料使用年限和性能的有用指标。除非您使用永久安装的自动 (PIA) IR 测试系统来测试设备，否则很难检测到这种类型的电流。这是因为电容充电电流导致 IR 读数最初非常低，然后会在几秒钟内迅速上升到更高的读数。这种情况表明绝缘状况良好，使用寿命也很好。
介电吸收或极化电流测量与时间相关，因为在施加直流测试电压时电流会随着时间缓慢下降。这种类型的电流测量通常称为介电吸收比 (DAR) 或极化指数 (PI) 比测试。在执行这些测试时，IR 读数用于创建 DAR 测试的 30 秒和 60 秒 IR 读数之间的比率，或 PI 测试的 1 分钟和 10 分钟 IR 读数之间的比率。DAR 测试的最小比率为 (1.6) 或 PI 测试的最小比率为 (3) 表明绝缘处于可接受的状态。任何小于这些最小值的比率都表明存在通过绝缘材料的平行泄漏路径，这表明存在问题。绝缘劣化的最常见原因是介电绝缘材料上的表面水分。水分会通过绝缘材料中的裂缝或缺陷产生平行的泄漏路径。这些测试对于确定绝缘材料当前的“实时”电气状况非常有用。
泄漏电流测量值是指示绝缘的整体介电条件的最常用值，并且是在 IR 测试期间测量的电流。泄漏电流与时间和频率有关，这意味着执行的测试次数和执行测试的持续时间会影响测试结果。理想情况下，IR 测试读数应随着时间缓慢增加，然后保持稳定一致的水平。这种类型的测试，当手动完成时，通常作为“点式”测试执行，并受测试时绝缘环境温度的影响。然后，IR 读数需要进行温度转换才能获得当时的真实泄漏电流。
随着时间的推移，众多测试结果变得平均，从而产生与温度无关的泄漏电流读数，这意味着这些 IR 读数不需要温度校正，结果值为绝缘的“真实”泄漏电流。理论上，即使 IR 读数低于标准中规定的建议的最低安全水平，低 IR 泄漏电流读数长期保持且不波动也是可以接受的。IR 测试读数以高水平开始，然后随着时间的推移显着下降，则被认为是不可接受的，并且表明绝缘存在缺陷。IR 测试读数从低水平开始，然后缓慢上升到初始水平的四倍以上，表明绝缘处于新的或良好的运行状态。
