在早期故障阶段，有缺陷的、受污染的或关键的电子元件将在此期间发生故障并暴露。这个阶段很短。有的元器件几天就会失效，提早淘汰。正常失效期是元器件正常工作的阶段，也是元器件的使用寿命。本文收集整理了部分资料，希望对各位读者有一定的参考价值。
大量类似元件的失效可分为三个阶段：
1）早期失效期
新制造的电子设备，刚刚投入使用一段时间，称为早期故障。早期故障的特点是故障率高，但随着工作时间的增加而迅速下降。本节中的部分故障原因是由于制造器件的原材料存在缺陷造成的；有的是元器件生产过程中工艺措施不当造成的。
一般来说，早期失效是隐藏在部件设计和制造中的潜在失效。在使用中会不断变质，故障暴露就会导致故障。因此，元器件的早期失效对用户的伤害是很大的。在整机生产过程中，对元器件进行老化筛选的主要目的是加速早期失效，使整机出厂前进入正常使用阶段，早期筛选出失效元器件，保证整机的可靠运行。
2) 意外过期
电子元器件在早期失效后，进入偶然失效期。这个阶段的特点是故障率低而稳定，是偶然的。这是组件的最佳工作阶段。因使用寿命长，故又称使用寿命。一个好的集成电路的意外故障可以超过一百万小时。
这期间的失效原因可以看成是元器件在某一时刻积累的应力（指影响元器件功能的各种因素，如温度、电压、电流和机械应力等）超过了元器件的强度。对这些压力的组件。一般有以下三种情况： 突然的机械冲击或热冲击导致引线断裂；大电流造成结的损坏；环境变化超出应用范围，导致组件特性变化太大无法工作，甚至失效。
对于上述情况，电路设计应从最坏情况出发，考虑元器件参数可能变化的范围，并考虑一些具体的措施，如散热通风措施、抗电磁干扰措施等，以避免超出适用范围的环境变化。
3）亏损失效期
元器件正常使用后，由于老化、损耗、磨损和疲劳，故障率随工作时间的增加而增加。这个阶段称为损失失效期，也称为晚期失效期。
损耗失效主要是由于材料的化学和物理变化引起的。例如，管内引线键合点表面长时间氧化，表面氧化增加电阻，导致过热导致键合点开路；又如表面化学反应，改变电子空穴分布，产生反型层，形成导电通道，增加反向电流，使参数变差，导致器件失效。损耗失效是正常的自然规律，说明元器件已经达到额定使用寿命，为此采取的措施是定期更换。
